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半導體相關產品
> 半導體檢測設備銷售服務
產品聯絡人／鄭玉榮
產品名稱：半導體檢測設備銷售服務
詳細說明：
提供檢測設備銷售服務：
一、日本TORAY晶圓缺陷檢測機
T0RAY wafer defect inspection Equipment.
二、日本TOPCON晶圓表面檢測機
TOPCON wafer surface Scan Equipment.
用途：
TORAY：IC Fab 前段AEI/ADI/CMP/QA製程領域檢測
TOPCON：Particle量測之檢測
規格：
產品名稱：半導體檢測設備銷售服務